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產品介紹
產品概述
HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、高濕等加速壽命信賴性試驗，適用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，測試其制品的密封性和老化性能。
產品特性
內膽采用雙層圓弧設計，可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果；采用高效真空泵，使箱內達到最佳純凈飽和蒸汽狀態；
采用7寸真彩式觸摸屏，擁有99組4950段程序，具有USB曲線數據下載功能，RS-485通訊接口；
采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為:干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
執行試驗方法與標準
·GB 10589-89低溫試驗箱技術條件
·IEC 68-2-14試驗N
·GB 11158-89高溫試驗箱技術條件
·GJB 150.3-86/150.4-86
·GB 10592-89高低溫試驗箱技術條件
·GB 2423.1-89電工電子產品基本試驗規程試驗
·A:低溫試驗方法;
·GB 2423.1低溫試驗、試驗A
·GB 2423.2-89電工電子產品基本試驗規程試驗
·B:高溫試驗方法;
·GB 2423.2高溫試驗、試驗B
·GB 2423.22溫度變化試驗，試驗N
產品參數
型號
HAST-35（不飽和型）
內箱尺寸（mm）
（圓筒型壓力內箱）
直徑?
350
深D
450
外箱尺寸（mm）
寬W
880
高H
1560
深
1160
溫度范圍
+105℃～+135℃
(145℃為特殊選購機型)
+105℃～+162.5℃
(可定制)
濕度范圍
HUM不飽和測試模式：65%RH~100%RH
STD飽和測試模式：100%RH
100%RH（STD飽和測試模式）
壓力范圍
表壓力：+0.2kPa ～ 200kPa
*絕對壓力：100kPa ～ 300kPa
溫度波動度
±0.5℃
溫度分布均勻度
≤3.0℃
溫度偏差
≤±3.0℃
濕度波動度
±3.0％RH
濕度偏差
±5.0％RH
壓力偏差
≤±2 kPa
升溫速率
+25℃～+135℃， 全程平均約 45 min (空載，不發熱)
升壓時間
常壓 ～ 200kPa 45min
內箱材質
SUS316不銹鋼板，內膽整體全滿焊焊接而成
外箱材質
優質冷軋鋼板，表面靜電粉體烤漆
保溫材質
超細玻璃棉保溫層，阻燃等級A1
箱門
單開門，平嵌式旋轉把手
機組
蓄水箱、散熱風口、自動補水泵、補水電磁閥，水位盒、排水孔
應急泄壓
手動泄壓閥
控制器
科明7寸彩色觸摸屏智能控制器
*操作系統：科明KM-5160 壓力溫濕度版
保護裝置
超溫保護、箱內壓力保護、斷路、過載保護、風機過載保護、箱門緊鎖保護、缺水保護、漏電保護、報警動作
標準配件
不銹鋼樣品架2層、移動腳輪(配腳杯)4式
*注：各參數尺寸及外觀根據客戶要求量身定做
我們保留修改技術參數的權利
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